電子分光屋のインフォマティクスとの出会い by 吉川, 英樹

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電子分光シミュレーター SESSAの使い方 by 三浦, 薫, 吉川, 英樹

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極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析によるHfO2/Si基板の分析 by 荻原, 俊弥, 長田, 貴弘, 吉川, 英樹

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極低角度入射イオンビームを用いたオージェ深さ方向分析によるFeNi/CoFeB/FeNi多層薄膜の分析 by 荻原, 俊弥, 柳内, 克昭, 吉川, 英樹

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An Electron Spectroscopist Meets Informatics by Yoshikawa, Hideki

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電子線マイクロアナライザーによるMg-Ge合金の定量 -Mg Kα に対するGeの質量吸収係数の検討 by 西尾, 満章, 吉川, 英樹, 田沼, 繁夫, 今井, 基晴, 磯田, 幸宏

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初期端点の自動調整機能を付加したactive Shirley法によるXPSバックグラウンドの自動推定 by 西澤, 侑吾, 松本, 凌, 片岡, 範行, 田中, 博美, 吉川, 英樹, 田沼, 繁夫, 吉原, 一紘

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動的Shirley法によるXPSスペクトルのバックグラウンド自動推定と定量分析 by 松本, 凌, 西澤, 侑吾, 片岡, 範行, 田中, 博美, 吉川, 英樹, 田沼, 繁夫, 吉原, 一紘

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White electron beam technique in electron-beam based techniques by Da, B., Liu, J. W., Yoshikawa, Hideki, Tanuma, Shigeo

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深さ方向分析に関するアンケートのまとめ by 永富, 隆清, 高橋, 和裕, 吉川, 英樹

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