CHARM High-Energy Ions for Microelectronics Reliability Assurance (CHIMERA) by Bilko, Kacper, Alia, Ruben Garcia, Costantino, Alessandra, Coronetti, Andrea, Danzeca, Salvatore, Delrieux, Marc, Emriskova, Natalia, Fraser, Matthew Alexander, Girard, Sylvain, Johnson, Eliott Philippe, Sebban, Marc, Ravotti, Federico, Waets, Andreas

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CHARM High-energy Ions for Micro Electronics Reliability Assurance (CHIMERA) by Bilko, Kacper, Alía, Rubén García, Constantino, Alessandra, Coronetti, Andrea, Danzeca, Salvatore, Delrieux, Marc, Emriskova, Natalia, Fraser, Matthew Alexander, Girard, Sylvain, Johnson, Eliott Philippe, Sebban, Marc, Ravotti, Federico, Waets, Andreas

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The trigger and data acquisition system of the FASER experiment by Abreu, H., Amin Mansour, E., Antel, C., Ariga, A., Ariga, T., Bernlochner, F., Boeckh, T., Boyd, J., Brenner, L., Cadoux, F., Casper, D.W., Cavanagh, C., Chen, X., Coccaro, A., Débieux, S., Dmitrievsky, S., D'Onofrio, M., Dozen, C., Favre, Y., Fellers, D., Feng, J.L., Ferrere, D., Gamberini, E., Galantay, E.K., Gibson, S., Gonzalez-Sevilla, S., Gornushkin, Y., Gwilliam, C., Hsu, S.-C., Hu, Z., Iacobucci, G., Inada, T., Jakobsen, S., Johnson, E., Kajomovitz, E., Kling, F., Kose, U., Kuehn, S., Lefebvre, H., Levinson, L., Li, K., Liu, J., Magliocca, C., McFayden, J., Milanesio, M., Meehan, S., Mladenov, D., Moretti, T., Munker, M., Nakamura, M., Nakano, T., Nessi, M., Neuhaus, F., Nevay, L., Otono, H., Pandini, C., Pang, H., Paolozzi, L., Petersen, B., Pietropaolo, F., Prim, M., Queitsch-Maitland, M., Resnati, F., Rizzi, C., Rokujo, H., Ruiz-Cholis, E., Salfeld-Nebgen, J., Sato, O., Scampoli, P., Schmieden, K., Schott, M., Sfyrla, A., Shively, S., Sipos, R., Spencer, J., Takubo, Y., Tarannum, N., Theiner, O., Torrence, E., Tufanli, S., Vasina, S., Vormwald, B., Wang, D.

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