Search Results - Nolet, F

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    Reflectivity of VUV-sensitive silicon photomultipliers in liquid Xenon by Wagenpfeil, M., Schneider, J., Murra, M., Schulte, D., Weinheimer, C., Michel, T., Anton, G., Adhikari, G., Al Kharusi, S., Angelico, E., Arnquist, I.J., Beck, D., Bolotnikov, A., Breur, P.A., Brown, E., Brunner, T., Caden, E., Chernyak, D., Craycraft, A., Daniels, T., Darroch, L., de St. Croix, A., Deslandes, K., Di Vacri, M.L., Dolinski, M.J., Echevers, J., Elbeltagi, M., Ferrara, S., Feyzbakhsh, S., Gallina, G., Giacomini, G., Gingras, C., Goeldi, D., Gorham, A., Gornea, R., Gratta, G., Hansen, E.V., Hardy, C.A., Heffner, M., Hoppe, E.W., House, A., Jamil, A., Jewell, M., Karelin, A., Kaufman, L.J., Kuchenkov, A., Kumar, K.S., Lan, Y., Leach, K.G., Leonard, D.S., Li, G., Licciardi, C., Lindsay, R., MacLellan, R., Massacret, N., McElroy, T., Medina Peregrina, M., Mong, B., Moore, D.C., Murray, K., Nattress, J., Natzke, C.R., Newby, R.J., Nolet, F., Nusair, O., Nzobadila Ondze, J.C., Odgers, K., Odian, A., Orrell, J.L., Overman, C.T., Piepke, A., Pratte, J.-F., Raguzin, E., Ramonnye, G.J., Retière, F., Richard, C., Richman, M., Ringuette, J., Robinson, A., Rossignol, T., Saldanha, R., Soma, A.K., Spadoni, F., Stekhanov, V., Stiegler, T., Tarka, M., Thibado, S., Tidball, A., Todd, J., Totev, T., Triambak, S., Tsang, R., Viel, S., Vivo-Vilches, C., Walent, M., Worcester, M., Wu, S.X., Yan, W., Yang, L., Zeldovich, O.

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