Low-frequency noise in GaAs and InP Schottky diodes by Sato, K.F., Chan, C.W., Najita, K., DeLisio, M.P., Chung, Y.H., Cowles, J., Grossman, P.C., Lai, R., Oki, A.K., Streit, D.C., Wang, H.

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1/f noise modeling of InP HBT-based Schottky diodes for monolithic monolithic millimeter-wave mixers by Chung, Y.H., Sato, K.F., Chan, C.W., Lin, E.W., Grossman, P.C., Tran, L.T., Cowles, J., Wang, H., Oki, A.K., Najita, K., DeLisio, M.P.

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Design and performance of a silicon–tungsten calorimeter prototype module and the associated readout by Awes, T., Britton, C.L., Chujo, T., Cormier, T., Ericson, M.N., Ezell, N.B., Fehlker, D., Frank, S.S., Fukuda, Y., Gunji, T., Hachiya, T., Hamagaki, H., Hayashi, S., Hirano, M., Hosokawa, R., Inaba, M., Ito, K., Kawamura, Y., Kawana, D., Kim, B., Kudo, S., Loizides, C., Miake, Y., Nooren, G., Novitzky, N., Peitzmann, T., Read, K.F., Röhrich, D., Sakamoto, T., Sato, W., Sekiguchi, Y., Shimomura, M., Silvermyr, D., Stankus, P.W., Sugitate, T., Suzuki, T., Takasu, S., van den Brink, A., van Leeuwen, M., Ullaland, K., Wang, H., Warmack, R., Yang, S., Zhang, C.

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Development of DynamicMC for PHITS Monte Carlo package by Watabe, Hiroshi, Sato, Tatsuhiko, Yu, Kwan Ngok, Zivkovic, Milena, Krstic, Dragana, Nikezic, Dragoslav, Kim, Kyeong Min, Yamaya, Taiga, Kawachi, Naoki, Tanaka, Hiroki, Haque, A K F, Islam, M Rafiqul, Shahmohammadi Beni, Mehrdad

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STEM Making: Fostering Secondary Students' Collaborative Skills with Mentor-scaffolded Authentic Problem Solving by Weng, Xiaojing, Jong, Morris S.Y., Chiu, Thomas K. F.

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Belle SVD2 vertex detector by Aihara, H., Asano, Y., Aso, T., Bakich, A., Barbero, M., Browder, T., Chang, M.C., Chao, Y., Chen, K.F., Chidzik, S., Chouvikov, A., Dalseno, J., Dowd, R., Fernholz, R., Fratina, S., Friedl, M., Fujii, H., Fujiyama, Y., Haba, J., Hara, K., Hara, T., Harrop, B., Haruyama, T., Hayashi, K., Hazumi, M., Heffernan, D., Higuchi, T., Igarashi, A., Igarashi, Y., Ikeda, H., Ishino, H., Iwaida, S., Kameshima, T., Kapusta, P., Kasami, K., Kawasaki, T., Kibayashi, A., Koike, S., Korpar, S., Križan, P., Kurashiro, H., Kusaka, A., Lesiak, T., Marlow, D., Matsumoto, H., Mikami, Y., Miyake, H., Moloney, G.R., Natkaniec, Z., Nozaki, S., Ohkubo, R., Okuno, S., Ono, S., Onuki, Y., Ostrowicz, W., Ozaki, H., Peak, L., Pernicka, M., Rosen, M., Rozanska, M., Sato, N., Schmid, S., Schümann, J., Shibata, T., Stamen, R., Stanič, S., Steininger, H., Sumisawa, K., Suzuki, J., Tajima, H., Tajima, O., Takahashi, K., Takasaki, F., Tamura, N., Tanaka, M., Taylor, G.N., Trabelsi, K., Tsuboyama, T., Uchida, K., Ueno, K., Ueno, K., Ushiroda, Y., Vahsen, S., Varner, G., Varvell, K., Velikzhanin, Y.S., Wang, C.C., Wang, M.Z., Watanabe, M., Watanabe, Y., Yamamoto, H., Yamashita, Y., Yamauchi, M., Yang, R., Yasu, Y., Ziegler, T., Žontar, D.

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Status and upgrade plans of the Belle silicon vertex detector by Aihara, H., Arakawa, T., Asano, Y., Aso, T., Bakich, A., Barbero, M., Browder, T., Chang, M.C., Chao, Y., Chen, K.F., Chidzik, S., Chouvikov, A., Choi, Y.K., Das, A., Dalseno, J., Fratina, S., Friedl, M., Fujiyama, Y., Haba, J., Hara, K., Hara, T., Harrop, B., Hayashi, K., Hazumi, M., Heffernan, D., Higuchi, T., Hirakawa, T., Irmler, C., Ishino, H., Joshi, N.K., Kajiwara, S., Kakuno, H., Kameshima, T., Kawasaki, T., Kibayashi, A., Kim, Y.J., Koike, S., Korpar, S., Križan, P., Kurashiro, H., Kusaka, A., Marlow, D., Miyake, H., Moloney, G.R., Nakahama, Y., Natkaniec, Z., Okuno, S., Ono, S., Ostrowicz, W., Ozaki, H., Peak, L., Pernicka, M., Rosen, M., Rozanska, M., Sato, N., Schmid, S., Schümann, J., Stanič, S., Steininger, H., Sumisawa, K., Tajima, O., Takahashi, T., Tamura, N., Tanaka, M., Tani, N., Taylor, G.N., Trabelsi, K., Tsuboyama, T., Uchida, K., Ueno, K., Ushiroda, Y., Varner, G., Varvell, K., Velikzhanin, Y.S., Wang, C.C., Wang, M.Z., Watanabe, M., Watanabe, Y., Yamamoto, H., Yamashita, Y., Ziegler, T.

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Silicon vertex detector for the KEK Super B factory by Tsuboyama, T., Aihara, H., Arakawa, T., Asano, Y., Aso, T., Bakich, A., Barbero, M., Browder, T., Chang, M.C., Chao, Y., Chen, K.F., Chidzik, S., Chouvikov, A., Choi, Y.K., Das, A., Dalseno, J., Fratina, S., Friedl, M., Fujiyama, Y., Haba, J., Hara, K., Hara, T., Harrop, B., Hayashi, K., Hazumi, M., Heffernan, D., Higuchi, T., Hirakawa, T., Irmler, C., Ishino, H., Joshi, N.K., Kajiwara, S., Kakuno, H., Kameshima, T., Kawasaki, T., Kibayashi, A., Kim, Y.J., Koike, S., Korpar, S., Križan, P., Kurashiro, H., Kusaka, A., Marlow, D., Miyake, H., Moloney, G.R., Nakahama, Y., Natkaniec, Z., Okuno, S., Ono, S., Ostrowicz, W., Ozaki, H., Peak, L., Pernicka, M., Rosen, M., Rozanska, M., Sato, N., Schmid, S., Schümann, J., Stanič, S., Steininger, H., Sumisawa, K., Tajima, O., Takahashi, T., Tamura, N., Tanaka, M., Tani, N., Taylor, G.N., Trabelsi, K., Uchida, K., Ueno, K., Ushiroda, Y., Varner, G., Varvell, K., Velikzhanin, Y.S., Wang, C.C., Wang, M.Z., Watanabe, M., Watanabe, Y., Yamamoto, H., Yamashita, Y., Ziegler, T.

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Belle silicon vertex detector for the Super B Factory by Friedl, M., Aihara, H., Arakawa, T., Asano, Y., Aso, T., Bakich, A., Barbero, M., Browder, T., Chang, M.C., Chao, Y., Chen, K.F., Chidzik, S., Chouvikov, A., Choi, Y.K., Dalseno, J., Fratina, S., Fujiyama, Y., Haba, J., Hara, K., Hara, T., Harrop, B., Hayashi, K., Hazumi, M., Heffernan, D., Higuchi, T., Hirakawa, T., Irmler, C., Ishino, H., Kajiwara, S., Kakuno, H., Kameshima, T., Kawasaki, T., Kibayashi, A., Kim, Y.J., Koike, S., Korpar, S., Križan, P., Kurashiro, H., Kusaka, A., Marlow, D., Matsumoto, H., Miyake, H., Moloney, G.R., Nakahama, Y., Natkaniec, Z., Okuno, S., Ono, S., Onuki, Y., Ostrowicz, W., Ozaki, H., Peak, L., Pernicka, M., Rosen, M., Rozanska, M., Sato, N., Schmid, S., Schümann, J., Stanič, S., Steininger, H., Sumisawa, K., Tajima, O., Takahashi, K., Tamura, N., Tanaka, M., Tani, N., Taylor, G.N., Trabelsi, K., Tsuboyama, T., Uchida, K., Ueno, K., Ushiroda, Y., Varner, G., Varvell, K., Velikzhanin, Y.S., Wang, C.C., Wang, M.Z., Watanabe, M., Watanabe, Y., Yamamoto, H., Yamashita, Y., Ziegler, T.

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