Search Results - Vámi, T.  Á.

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    Selection of the silicon sensor thickness for the Phase-2 upgrade of the CMS Outer Tracker by Dragicevic, M., Hinger, V., Janssen, X., Lowette, S., Allard, Y., Beghin, D., Moureaux, L., Popov, A., Vanlaer, P., Bethani, A., Bruno, G., Bury, F., David, P., Roguljić, M., Martikainen, L., Chabert, E., Dangelser, E., Haas, C., Krauth, M., Caponetto, L., Dupasquier, T., Jain, S., Botta, V., Klein, K., Harb, A., Maser, H., Mussgiller, A., Walsh, R., Abbas, M., Ardila, L., Blank, T., Elicabuk, U., Hartmann, F., Weddigen, A., Balázs, T., Siklér, F., Dutta, S., Ince, M., Mongelli, M., D'Alessandro, R., Meschini, M., Paoletti, S., Bianchi, F., Rossi, A., Morsani, F., Tonelli, G., Covarelli, R., Monteno, M., Duarte Campderros, J., Fernandez, M., Garcia Alonso, A., Vila, I., Abbaneo, D., Ceresa, D., Faccio, F., Kottelat, L., Orfanelli, S., Pernot, J.-F., Tavares Rego, R., Vasey, F., Meier, B., Noehte, L., Backhaus, M., Eble, F., Hits, D., Wallny, R., Bösiger, K., Maier, R., Takahashi, Y., Harder, K., Manolopoulos, K., Fedi, G., Coldham, K., Cole, J., Vargas Hernandez, A.M., Conway, J., Jensen, F., Krutelyov, S., MacDonald, E., Alexander, J., Bordlemay Padilla, Y., Cranshaw, D., Smolenski, K., Berry, D.R., Dickinson, J., Klabbers, P., Spiegel, L., Becerril Gonzalez, H., Kyriacou, S., Perera, L., Siado, J., Nguyen, D., Hahn, K., Francis, B., Hill, C.S., Jones, M., Liu, H., Bartz, E., Osherson, M., Stone, R.

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