化学效应对钴、镍、铜、锌配合物K壳层X射线荧光参数和俄歇辐射强度比的影响

对钴、镍、铜、锌元素组成的不同配合物K壳层X射线的产生截面、谱线强度比、俄歇辐射强度比进行了测定，同时研究了化学效应对K壳荧光参数和俄歇辐射强度比的影响，并根据电荷转移过程解释了这些参数的变化. 采用59.5 keV的γ射线241Am的环形放射源对样品进行激发. 用分辨率为150eV的Ultra-LEGe探测器在5.9 keV测定样品产生的K壳X射线....

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Published in:Chinese journal of chemical physics 2010 (2), p.138-144
Main Author: Erhan Cengiz Zekeriya Biyiklioglu Nuray Kup Ayhkcl Volkan Aylikci Gokhan Apaydin Engin Tirasglu Halit Kantekin
Format: Article
Language:Chinese
Subjects:
Ultra-LEGe探测器
俄歇辐射强度比
化学效应
横截面
电荷转移
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Description
Summary:对钴、镍、铜、锌元素组成的不同配合物K壳层X射线的产生截面、谱线强度比、俄歇辐射强度比进行了测定，同时研究了化学效应对K壳荧光参数和俄歇辐射强度比的影响，并根据电荷转移过程解释了这些参数的变化. 采用59.5 keV的γ射线241Am的环形放射源对样品进行激发. 用分辨率为150eV的Ultra-LEGe探测器在5.9 keV测定样品产生的K壳X射线.
ISSN:1674-0068
2327-2244