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Identifikation röntgenographischer Pulverdiagramme mit dem Tischcomputer

Es wird ein Programm zur Identifikation von Röntgenbeugungsdiagrammen mehrphasiger, polykristalliner Stoffe mit dem Tischcomputer Wang 720 C beschrieben. Seine bestimmenden Größen sind die Identifikationsstrategie, das Identifikationskriterium und die Δd(d)‐Funktion, die die zulässige Abweichung zwi...

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Published in:Materialwissenschaft und Werkstofftechnik 1976-01, Vol.7 (1), p.38-48
Main Authors: Grimminger, H., Knorsch, H., Schwarz, H.
Format: Article
Language:English
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description Es wird ein Programm zur Identifikation von Röntgenbeugungsdiagrammen mehrphasiger, polykristalliner Stoffe mit dem Tischcomputer Wang 720 C beschrieben. Seine bestimmenden Größen sind die Identifikationsstrategie, das Identifikationskriterium und die Δd(d)‐Funktion, die die zulässige Abweichung zwischen den gemessenen und den in der Magnetband‐Datei nach ASTM‐Stoffdatenkarten festgelegten d‐Werten vorgibt. Im Verlauf dieser Untersuchungen erwiesen sich insbesondere die z. T. fehlerhaften und nicht selten auch unvollständigen Angaben dieser Kartei bei relevanten Stoffdaten als der entscheidende Faktor für die Begrenzung der Zuverlässigkeit des Identifikationsergebnisses. An charakteristischen Beispielen wird die Leistungsfähigkeit des Programms demonstriert. Abschließend wird ein Ausblick auf die Weiterentwicklung dieses Programms gegeben. Identification of X‐Ray powder diffraction patterns with the mini‐computer. A description is given of a programme for identifying X‐ray diffraction patterns of multiphase, polycrystalline materials with the minicomputer Wang 720 C. It is determined by the identification strategy, the identification criterion and the Δd(d) function which describes the permissible variation between the measured d values and those laid down in accordance with ASTM material data cards in the magnetic tape file. In the course of these investigations the partially erroneous and often also incomplete information provided by this file in respect of relevant material data proved in particular to be the decisive factor for the limitation of the reliability of the identification result. The efficiency of the programme is demonstrated by means of characteristic examples. In conclusion, the prospects for the future development of this programme are discussed.
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Seine bestimmenden Größen sind die Identifikationsstrategie, das Identifikationskriterium und die Δd(d)‐Funktion, die die zulässige Abweichung zwischen den gemessenen und den in der Magnetband‐Datei nach ASTM‐Stoffdatenkarten festgelegten d‐Werten vorgibt. Im Verlauf dieser Untersuchungen erwiesen sich insbesondere die z. T. fehlerhaften und nicht selten auch unvollständigen Angaben dieser Kartei bei relevanten Stoffdaten als der entscheidende Faktor für die Begrenzung der Zuverlässigkeit des Identifikationsergebnisses. An charakteristischen Beispielen wird die Leistungsfähigkeit des Programms demonstriert. Abschließend wird ein Ausblick auf die Weiterentwicklung dieses Programms gegeben. Identification of X‐Ray powder diffraction patterns with the mini‐computer. A description is given of a programme for identifying X‐ray diffraction patterns of multiphase, polycrystalline materials with the minicomputer Wang 720 C. It is determined by the identification strategy, the identification criterion and the Δd(d) function which describes the permissible variation between the measured d values and those laid down in accordance with ASTM material data cards in the magnetic tape file. In the course of these investigations the partially erroneous and often also incomplete information provided by this file in respect of relevant material data proved in particular to be the decisive factor for the limitation of the reliability of the identification result. The efficiency of the programme is demonstrated by means of characteristic examples. In conclusion, the prospects for the future development of this programme are discussed.</description><identifier>ISSN: 0933-5137</identifier><identifier>EISSN: 1521-4052</identifier><identifier>DOI: 10.1002/mawe.19760070108</identifier><language>eng</language><publisher>Weinheim: WILEY‐VCH Verlag GmbH</publisher><ispartof>Materialwissenschaft und Werkstofftechnik, 1976-01, Vol.7 (1), p.38-48</ispartof><rights>Copyright © 1976 Verlag GmbH &amp; Co. 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Seine bestimmenden Größen sind die Identifikationsstrategie, das Identifikationskriterium und die Δd(d)‐Funktion, die die zulässige Abweichung zwischen den gemessenen und den in der Magnetband‐Datei nach ASTM‐Stoffdatenkarten festgelegten d‐Werten vorgibt. Im Verlauf dieser Untersuchungen erwiesen sich insbesondere die z. T. fehlerhaften und nicht selten auch unvollständigen Angaben dieser Kartei bei relevanten Stoffdaten als der entscheidende Faktor für die Begrenzung der Zuverlässigkeit des Identifikationsergebnisses. An charakteristischen Beispielen wird die Leistungsfähigkeit des Programms demonstriert. Abschließend wird ein Ausblick auf die Weiterentwicklung dieses Programms gegeben. Identification of X‐Ray powder diffraction patterns with the mini‐computer. A description is given of a programme for identifying X‐ray diffraction patterns of multiphase, polycrystalline materials with the minicomputer Wang 720 C. It is determined by the identification strategy, the identification criterion and the Δd(d) function which describes the permissible variation between the measured d values and those laid down in accordance with ASTM material data cards in the magnetic tape file. In the course of these investigations the partially erroneous and often also incomplete information provided by this file in respect of relevant material data proved in particular to be the decisive factor for the limitation of the reliability of the identification result. The efficiency of the programme is demonstrated by means of characteristic examples. 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