Nouvelle classe de simulateurs permettant la caractérisation de dispositifs embarqués sur des structures de grandes dimensions

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Published in:Annales des télécommunications 1992, Vol.47 (1-2), p.73-85
Main Authors: ANDRIEUX, J, RAINGEAUD, Y, DAFIF, O, JECKO, B, NEGRET, D, PECQUEUX, B
Format: Article
Language:eng ; fre
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Description
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ISSN:0003-4347
1958-9395
DOI:10.1007/BF02998729