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Variation des vitesses de propagation des ultrasons dans le silicium monocristallin entre 25° et 830°C
Nous avons mesuré les vitesses de propagation des ultrasons à 30 MHz d'une onde longitudinale et de deux transversales de 25° à 830°C dans du silicium monocristallin type p de 0,22Ω-cm de résistivité. Nous en déduisons les variations des constantes élastiques C 11, C 44 et de la différence 1 2...
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Published in: | Solid state communications 1968-06, Vol.6 (6), p.387-390 |
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Main Authors: | , , , |
Format: | Article |
Language: | fre |
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Summary: | Nous avons mesuré les vitesses de propagation des ultrasons à 30 MHz d'une onde longitudinale et de deux transversales de 25° à 830°C dans du silicium monocristallin type p de 0,22Ω-cm de résistivité. Nous en déduisons les variations des constantes élastiques C
11, C
44 et de la différence
1
2
(C
11C
12)
dans ce domaine de température.
Ultrasonic velocities at 30 MHz of one longitudinal and two transverse waves were measured between 25° and 830°C in type p silicon single crystals having a resistivity of 0,22Ω-cm. The elastic constants C
44, C
11 and the difference
1
2
(C
11C
12)
were calculated from the experimental values of the volocities. |
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ISSN: | 0038-1098 1879-2766 |
DOI: | 10.1016/0038-1098(68)90163-4 |