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Non-destructive in situ analysis of garnet by combining scanning electron microscopy and X-ray diffraction techniques
Mediante el uso de la difracción de rayos-X de polvo (DRXP), microdifracción de rayos-X ( m DXR) y microscopía electrónica de barrido, la caracterización estructural de minerales resulta ser mucho más fiable y precisa. La identificación y cuantificación elemental y composicional de los minerales med...
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Published in: | Dyna (Medellín, Colombia) Colombia), 2016-01, Vol.83 (195), p.84-92 |
---|---|
Main Authors: | , , , , |
Format: | Article |
Language: | eng ; spa |
Subjects: | |
Online Access: | Get full text |
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cited_by | |
---|---|
cites | |
container_end_page | 92 |
container_issue | 195 |
container_start_page | 84 |
container_title | Dyna (Medellín, Colombia) |
container_volume | 83 |
creator | Bonilla-Jaimes, John Deiver Henao-Martínez, Jose Antonio Mendoza-Luna, Carolina Castellanos-Alarcón, Oscar Mauricio Ríos-Reyes, Carlos Alberto |
description | Mediante el uso de la difracción de rayos-X de polvo (DRXP), microdifracción de rayos-X ( m DXR) y microscopía electrónica de barrido, la caracterización estructural de minerales resulta ser mucho más fiable y precisa. La identificación y cuantificación elemental y composicional de los minerales mediante estas técnicas no destructivas, mejoran la calidad de los resultados y permiten realizar un análisis completo del material. Los datos obtenidos mediante estas técnicas revelaron la presencia de granate tipo espesartina, además de los elementos y compuestos trazas que conforman el material en general. El refinamiento estructural de la espesartina fue realizado mediante el método Rietveld a partir de los datos obtenidos por difracción convencional y con ayuda del software de análisis MDI RIQAS. Con los datos adquiridos por m DXR usando un detector de área, un menor tiempo de exposición (comparado con el requerido en detectores 0D y 1D) y sin la necesidad de la disminución del tamaño de partícula del mineral, fue posible la identificación de la espesartina y otros compuestos en menor concentración (mediciones "in situ"). Mediante la combinación de las técnicas de microscopía electrónica de barrido y microdifracción de rayos X, tanto de trabajo desde un punto de vista de la caracterización. El examen por difracción de micro-rayos X no requiere la separación física de la muestra. Usando esta información y las técnicas analíticas avanzadas anteriores, la identificación de granate puede ser mucho más fiable. |
doi_str_mv | 10.15446/dyna.v83n195.46360 |
format | article |
fullrecord | <record><control><sourceid>proquest_doaj_</sourceid><recordid>TN_cdi_doaj_primary_oai_doaj_org_article_d64c10bf52d94329be73e4d99a2810f8</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><doaj_id>oai_doaj_org_article_d64c10bf52d94329be73e4d99a2810f8</doaj_id><sourcerecordid>3976320871</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-LOGICAL-c1389-50a6e3bbdf3a590aeebe0a816e3159440fcf8496cd322b04e2613e795c75319d3</originalsourceid><addsrcrecordid>eNo9kU1rGzEQhkVpoW6aX5CLoOd19bkrHUPoRyC0lxZ6E7PSyJGxJVfaDey_79oOPc0wvPMO8z6E3HG25Vqp_nNYMmxfjMzc6q3qZc_ekI2Qqu8EN_It2TDGRTdILd-TD63tGVOaM7Mh84-Su4BtqrOf0gvSlGlL00whw2FpqdES6Q5qxomOC_XlOKac8o42D_nS4AH9VEumx-Rrab6clnU50D9dhYWGFGOF1XoVTOifc_o7Y_tI3kU4NLx9rTfk99cvvx6-d08_vz0-3D91nktjO82gRzmOIUrQlgHiiAwMX4dcW6VY9NEo2_sghRiZQtFziYPVftCS2yBvyOPVNxTYu1NNR6iLK5DcZVDqzkGdkj-gC73ynI1Ri2CVFHbEQaIK1oIwnEWzen26ep1qOf8wuX2Z65pSc3wY-CCM1nZVyavqnEWrGP9f5cxdWLkzK_fKyl1YyX--zYqY</addsrcrecordid><sourcetype>Open Website</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>article</recordtype><pqid>1771728559</pqid></control><display><type>article</type><title>Non-destructive in situ analysis of garnet by combining scanning electron microscopy and X-ray diffraction techniques</title><source>Publicly Available Content Database</source><creator>Bonilla-Jaimes, John Deiver ; Henao-Martínez, Jose Antonio ; Mendoza-Luna, Carolina ; Castellanos-Alarcón, Oscar Mauricio ; Ríos-Reyes, Carlos Alberto</creator><creatorcontrib>Bonilla-Jaimes, John Deiver ; Henao-Martínez, Jose Antonio ; Mendoza-Luna, Carolina ; Castellanos-Alarcón, Oscar Mauricio ; Ríos-Reyes, Carlos Alberto</creatorcontrib><description>Mediante el uso de la difracción de rayos-X de polvo (DRXP), microdifracción de rayos-X ( m DXR) y microscopía electrónica de barrido, la caracterización estructural de minerales resulta ser mucho más fiable y precisa. La identificación y cuantificación elemental y composicional de los minerales mediante estas técnicas no destructivas, mejoran la calidad de los resultados y permiten realizar un análisis completo del material. Los datos obtenidos mediante estas técnicas revelaron la presencia de granate tipo espesartina, además de los elementos y compuestos trazas que conforman el material en general. El refinamiento estructural de la espesartina fue realizado mediante el método Rietveld a partir de los datos obtenidos por difracción convencional y con ayuda del software de análisis MDI RIQAS. Con los datos adquiridos por m DXR usando un detector de área, un menor tiempo de exposición (comparado con el requerido en detectores 0D y 1D) y sin la necesidad de la disminución del tamaño de partícula del mineral, fue posible la identificación de la espesartina y otros compuestos en menor concentración (mediciones "in situ"). Mediante la combinación de las técnicas de microscopía electrónica de barrido y microdifracción de rayos X, tanto de trabajo desde un punto de vista de la caracterización. El examen por difracción de micro-rayos X no requiere la separación física de la muestra. Usando esta información y las técnicas analíticas avanzadas anteriores, la identificación de granate puede ser mucho más fiable.</description><identifier>ISSN: 0012-7353</identifier><identifier>EISSN: 2346-2183</identifier><identifier>DOI: 10.15446/dyna.v83n195.46360</identifier><language>eng ; spa</language><publisher>Bogota: Universidad Nacional de Colombia</publisher><subject>analytical techniques ; garnet ; micro X-ray diffraction ; mineral ; scanning electron microscopy</subject><ispartof>Dyna (Medellín, Colombia), 2016-01, Vol.83 (195), p.84-92</ispartof><rights>Copyright Universidad Nacional de Colombia 2016</rights><lds50>peer_reviewed</lds50><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed><orcidid>0000-0003-0620-0540 ; 0000-0002-2079-8043 ; 0000-0002-3508-0771 ; 0000-0002-7461-3585 ; 0000-0002-2887-1532</orcidid></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://www.proquest.com/docview/1771728559?pq-origsite=primo$$EHTML$$P50$$Gproquest$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>314,780,784,25753,27924,27925,37012,44590</link.rule.ids></links><search><creatorcontrib>Bonilla-Jaimes, John Deiver</creatorcontrib><creatorcontrib>Henao-Martínez, Jose Antonio</creatorcontrib><creatorcontrib>Mendoza-Luna, Carolina</creatorcontrib><creatorcontrib>Castellanos-Alarcón, Oscar Mauricio</creatorcontrib><creatorcontrib>Ríos-Reyes, Carlos Alberto</creatorcontrib><title>Non-destructive in situ analysis of garnet by combining scanning electron microscopy and X-ray diffraction techniques</title><title>Dyna (Medellín, Colombia)</title><description>Mediante el uso de la difracción de rayos-X de polvo (DRXP), microdifracción de rayos-X ( m DXR) y microscopía electrónica de barrido, la caracterización estructural de minerales resulta ser mucho más fiable y precisa. La identificación y cuantificación elemental y composicional de los minerales mediante estas técnicas no destructivas, mejoran la calidad de los resultados y permiten realizar un análisis completo del material. Los datos obtenidos mediante estas técnicas revelaron la presencia de granate tipo espesartina, además de los elementos y compuestos trazas que conforman el material en general. El refinamiento estructural de la espesartina fue realizado mediante el método Rietveld a partir de los datos obtenidos por difracción convencional y con ayuda del software de análisis MDI RIQAS. Con los datos adquiridos por m DXR usando un detector de área, un menor tiempo de exposición (comparado con el requerido en detectores 0D y 1D) y sin la necesidad de la disminución del tamaño de partícula del mineral, fue posible la identificación de la espesartina y otros compuestos en menor concentración (mediciones "in situ"). Mediante la combinación de las técnicas de microscopía electrónica de barrido y microdifracción de rayos X, tanto de trabajo desde un punto de vista de la caracterización. El examen por difracción de micro-rayos X no requiere la separación física de la muestra. Usando esta información y las técnicas analíticas avanzadas anteriores, la identificación de granate puede ser mucho más fiable.</description><subject>analytical techniques</subject><subject>garnet</subject><subject>micro X-ray diffraction</subject><subject>mineral</subject><subject>scanning electron microscopy</subject><issn>0012-7353</issn><issn>2346-2183</issn><fulltext>true</fulltext><rsrctype>article</rsrctype><creationdate>2016</creationdate><recordtype>article</recordtype><sourceid>PIMPY</sourceid><sourceid>DOA</sourceid><recordid>eNo9kU1rGzEQhkVpoW6aX5CLoOd19bkrHUPoRyC0lxZ6E7PSyJGxJVfaDey_79oOPc0wvPMO8z6E3HG25Vqp_nNYMmxfjMzc6q3qZc_ekI2Qqu8EN_It2TDGRTdILd-TD63tGVOaM7Mh84-Su4BtqrOf0gvSlGlL00whw2FpqdES6Q5qxomOC_XlOKac8o42D_nS4AH9VEumx-Rrab6clnU50D9dhYWGFGOF1XoVTOifc_o7Y_tI3kU4NLx9rTfk99cvvx6-d08_vz0-3D91nktjO82gRzmOIUrQlgHiiAwMX4dcW6VY9NEo2_sghRiZQtFziYPVftCS2yBvyOPVNxTYu1NNR6iLK5DcZVDqzkGdkj-gC73ynI1Ri2CVFHbEQaIK1oIwnEWzen26ep1qOf8wuX2Z65pSc3wY-CCM1nZVyavqnEWrGP9f5cxdWLkzK_fKyl1YyX--zYqY</recordid><startdate>20160101</startdate><enddate>20160101</enddate><creator>Bonilla-Jaimes, John Deiver</creator><creator>Henao-Martínez, Jose Antonio</creator><creator>Mendoza-Luna, Carolina</creator><creator>Castellanos-Alarcón, Oscar Mauricio</creator><creator>Ríos-Reyes, Carlos Alberto</creator><general>Universidad Nacional de Colombia</general><scope>AAYXX</scope><scope>CITATION</scope><scope>7SR</scope><scope>7TB</scope><scope>8BQ</scope><scope>8FD</scope><scope>8FE</scope><scope>8FG</scope><scope>ABJCF</scope><scope>ABUWG</scope><scope>AFKRA</scope><scope>ATCPS</scope><scope>AZQEC</scope><scope>BENPR</scope><scope>BGLVJ</scope><scope>BHPHI</scope><scope>BKSAR</scope><scope>CCPQU</scope><scope>CLZPN</scope><scope>D1I</scope><scope>DWQXO</scope><scope>FR3</scope><scope>GNUQQ</scope><scope>HCIFZ</scope><scope>JG9</scope><scope>KB.</scope><scope>KR7</scope><scope>L6V</scope><scope>M7S</scope><scope>PATMY</scope><scope>PCBAR</scope><scope>PDBOC</scope><scope>PIMPY</scope><scope>PQEST</scope><scope>PQQKQ</scope><scope>PQUKI</scope><scope>PRINS</scope><scope>PTHSS</scope><scope>PYCSY</scope><scope>DOA</scope><orcidid>https://orcid.org/0000-0003-0620-0540</orcidid><orcidid>https://orcid.org/0000-0002-2079-8043</orcidid><orcidid>https://orcid.org/0000-0002-3508-0771</orcidid><orcidid>https://orcid.org/0000-0002-7461-3585</orcidid><orcidid>https://orcid.org/0000-0002-2887-1532</orcidid></search><sort><creationdate>20160101</creationdate><title>Non-destructive in situ analysis of garnet by combining scanning electron microscopy and X-ray diffraction techniques</title><author>Bonilla-Jaimes, John Deiver ; Henao-Martínez, Jose Antonio ; Mendoza-Luna, Carolina ; Castellanos-Alarcón, Oscar Mauricio ; Ríos-Reyes, Carlos Alberto</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-LOGICAL-c1389-50a6e3bbdf3a590aeebe0a816e3159440fcf8496cd322b04e2613e795c75319d3</frbrgroupid><rsrctype>articles</rsrctype><prefilter>articles</prefilter><language>eng ; spa</language><creationdate>2016</creationdate><topic>analytical techniques</topic><topic>garnet</topic><topic>micro X-ray diffraction</topic><topic>mineral</topic><topic>scanning electron microscopy</topic><toplevel>peer_reviewed</toplevel><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>Bonilla-Jaimes, John Deiver</creatorcontrib><creatorcontrib>Henao-Martínez, Jose Antonio</creatorcontrib><creatorcontrib>Mendoza-Luna, Carolina</creatorcontrib><creatorcontrib>Castellanos-Alarcón, Oscar Mauricio</creatorcontrib><creatorcontrib>Ríos-Reyes, Carlos Alberto</creatorcontrib><collection>CrossRef</collection><collection>Engineered Materials Abstracts</collection><collection>Mechanical & Transportation Engineering Abstracts</collection><collection>METADEX</collection><collection>Technology Research Database</collection><collection>ProQuest SciTech Collection</collection><collection>ProQuest Technology Collection</collection><collection>Materials Science & Engineering Collection</collection><collection>ProQuest Central (Alumni)</collection><collection>ProQuest Central</collection><collection>Agricultural & Environmental Science Collection</collection><collection>ProQuest Central Essentials</collection><collection>ProQuest Central</collection><collection>Technology Collection</collection><collection>ProQuest Natural Science Collection</collection><collection>Earth, Atmospheric & Aquatic Science Collection</collection><collection>ProQuest One Community College</collection><collection>Latin America & Iberia Database</collection><collection>ProQuest Materials Science Collection</collection><collection>ProQuest Central</collection><collection>Engineering Research Database</collection><collection>ProQuest Central Student</collection><collection>SciTech Premium Collection</collection><collection>Materials Research Database</collection><collection>https://resources.nclive.org/materials</collection><collection>Civil Engineering Abstracts</collection><collection>ProQuest Engineering Collection</collection><collection>ProQuest Engineering Database</collection><collection>Environmental Science Database</collection><collection>ProQuest Earth, Atmospheric & Aquatic Science Database</collection><collection>Materials science collection</collection><collection>Publicly Available Content Database</collection><collection>ProQuest One Academic Eastern Edition (DO NOT USE)</collection><collection>ProQuest One Academic</collection><collection>ProQuest One Academic UKI Edition</collection><collection>ProQuest Central China</collection><collection>Engineering collection</collection><collection>Environmental Science Collection</collection><collection>DOAJ Directory of Open Access Journals</collection><jtitle>Dyna (Medellín, Colombia)</jtitle></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext</fulltext></delivery><addata><au>Bonilla-Jaimes, John Deiver</au><au>Henao-Martínez, Jose Antonio</au><au>Mendoza-Luna, Carolina</au><au>Castellanos-Alarcón, Oscar Mauricio</au><au>Ríos-Reyes, Carlos Alberto</au><format>journal</format><genre>article</genre><ristype>JOUR</ristype><atitle>Non-destructive in situ analysis of garnet by combining scanning electron microscopy and X-ray diffraction techniques</atitle><jtitle>Dyna (Medellín, Colombia)</jtitle><date>2016-01-01</date><risdate>2016</risdate><volume>83</volume><issue>195</issue><spage>84</spage><epage>92</epage><pages>84-92</pages><issn>0012-7353</issn><eissn>2346-2183</eissn><abstract>Mediante el uso de la difracción de rayos-X de polvo (DRXP), microdifracción de rayos-X ( m DXR) y microscopía electrónica de barrido, la caracterización estructural de minerales resulta ser mucho más fiable y precisa. La identificación y cuantificación elemental y composicional de los minerales mediante estas técnicas no destructivas, mejoran la calidad de los resultados y permiten realizar un análisis completo del material. Los datos obtenidos mediante estas técnicas revelaron la presencia de granate tipo espesartina, además de los elementos y compuestos trazas que conforman el material en general. El refinamiento estructural de la espesartina fue realizado mediante el método Rietveld a partir de los datos obtenidos por difracción convencional y con ayuda del software de análisis MDI RIQAS. Con los datos adquiridos por m DXR usando un detector de área, un menor tiempo de exposición (comparado con el requerido en detectores 0D y 1D) y sin la necesidad de la disminución del tamaño de partícula del mineral, fue posible la identificación de la espesartina y otros compuestos en menor concentración (mediciones "in situ"). Mediante la combinación de las técnicas de microscopía electrónica de barrido y microdifracción de rayos X, tanto de trabajo desde un punto de vista de la caracterización. El examen por difracción de micro-rayos X no requiere la separación física de la muestra. Usando esta información y las técnicas analíticas avanzadas anteriores, la identificación de granate puede ser mucho más fiable.</abstract><cop>Bogota</cop><pub>Universidad Nacional de Colombia</pub><doi>10.15446/dyna.v83n195.46360</doi><tpages>9</tpages><orcidid>https://orcid.org/0000-0003-0620-0540</orcidid><orcidid>https://orcid.org/0000-0002-2079-8043</orcidid><orcidid>https://orcid.org/0000-0002-3508-0771</orcidid><orcidid>https://orcid.org/0000-0002-7461-3585</orcidid><orcidid>https://orcid.org/0000-0002-2887-1532</orcidid><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
fulltext | fulltext |
identifier | ISSN: 0012-7353 |
ispartof | Dyna (Medellín, Colombia), 2016-01, Vol.83 (195), p.84-92 |
issn | 0012-7353 2346-2183 |
language | eng ; spa |
recordid | cdi_doaj_primary_oai_doaj_org_article_d64c10bf52d94329be73e4d99a2810f8 |
source | Publicly Available Content Database |
subjects | analytical techniques garnet micro X-ray diffraction mineral scanning electron microscopy |
title | Non-destructive in situ analysis of garnet by combining scanning electron microscopy and X-ray diffraction techniques |
url | http://sfxeu10.hosted.exlibrisgroup.com/loughborough?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2024-12-27T21%3A24%3A17IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-proquest_doaj_&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:journal&rft.genre=article&rft.atitle=Non-destructive%20in%20situ%20analysis%20of%20garnet%20by%20combining%20scanning%20electron%20microscopy%20and%20X-ray%20diffraction%20techniques&rft.jtitle=Dyna%20(Medelli%CC%81n,%20Colombia)&rft.au=Bonilla-Jaimes,%20John%20Deiver&rft.date=2016-01-01&rft.volume=83&rft.issue=195&rft.spage=84&rft.epage=92&rft.pages=84-92&rft.issn=0012-7353&rft.eissn=2346-2183&rft_id=info:doi/10.15446/dyna.v83n195.46360&rft_dat=%3Cproquest_doaj_%3E3976320871%3C/proquest_doaj_%3E%3Cgrp_id%3Ecdi_FETCH-LOGICAL-c1389-50a6e3bbdf3a590aeebe0a816e3159440fcf8496cd322b04e2613e795c75319d3%3C/grp_id%3E%3Coa%3E%3C/oa%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&rft_id=info:oai/&rft_pqid=1771728559&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true |