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Développement d’un traceur de caractéristiques de quadripôles et son utilisation en séance de travaux pratiques

Dans le cadre d’un projet d’études techniques, deux étudiants en 2ème du cycle ingénieur à l’ENSIL-ENSCI à Limoges ont réalisé un traceur automatique de caractéristiques de transistors (à effet de champ et bipolaire). Cet outil permet aujourd’hui aux étudiants en travaux pratiques d’électronique ana...

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Published in:Journal sur l'enseignement des sciences et technologies de l'information et des systèmes 2019, Vol.18, p.1024
Main Authors: Guérineau, D., Fache, L., Aupetit-Berthelemot, C., Medrel, P.
Format: Article
Language:fre
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container_title Journal sur l'enseignement des sciences et technologies de l'information et des systèmes
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creator Guérineau, D.
Fache, L.
Aupetit-Berthelemot, C.
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Cet outil permet aujourd’hui aux étudiants en travaux pratiques d’électronique analogique de disposer des caractéristiques courant-tension et des paramètres dynamiques petit signal basse fréquence réalistes du composant utilisé en séance lors de la synthèse de leur circuit afin de répondre au cahier des charges spécifié. Ce papier présentera d’une part la construction de ce traceur de caractéristique (matériel utilisé, éléments de programmation …) et d’autre part l’utilisation de ces courbes lors de la synthèse d’un circuit amplificateur de tension à base d’un transistor bipolaire.</description><identifier>ISSN: 1638-5705</identifier><identifier>ISSN: 1638-1963</identifier><identifier>EISSN: 1638-5705</identifier><identifier>DOI: 10.1051/j3ea/20191024</identifier><language>fre</language><publisher>EDP Sciences</publisher><subject>Engineering Sciences ; Optics ; Photonic</subject><ispartof>Journal sur l'enseignement des sciences et technologies de l'information et des systèmes, 2019, Vol.18, p.1024</ispartof><rights>Distributed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License</rights><lds50>peer_reviewed</lds50><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><link.rule.ids>230,314,780,784,885,4024,27923,27924,27925</link.rule.ids><backlink>$$Uhttps://hal.science/hal-02478494$$DView record in HAL$$Hfree_for_read</backlink></links><search><creatorcontrib>Guérineau, D.</creatorcontrib><creatorcontrib>Fache, L.</creatorcontrib><creatorcontrib>Aupetit-Berthelemot, C.</creatorcontrib><creatorcontrib>Medrel, P.</creatorcontrib><title>Développement d’un traceur de caractéristiques de quadripôles et son utilisation en séance de travaux pratiques</title><title>Journal sur l'enseignement des sciences et technologies de l'information et des systèmes</title><description>Dans le cadre d’un projet d’études techniques, deux étudiants en 2ème du cycle ingénieur à l’ENSIL-ENSCI à Limoges ont réalisé un traceur automatique de caractéristiques de transistors (à effet de champ et bipolaire). 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Ce papier présentera d’une part la construction de ce traceur de caractéristique (matériel utilisé, éléments de programmation …) et d’autre part l’utilisation de ces courbes lors de la synthèse d’un circuit amplificateur de tension à base d’un transistor bipolaire.</description><subject>Engineering Sciences</subject><subject>Optics</subject><subject>Photonic</subject><issn>1638-5705</issn><issn>1638-1963</issn><issn>1638-5705</issn><fulltext>true</fulltext><rsrctype>article</rsrctype><creationdate>2019</creationdate><recordtype>article</recordtype><recordid>eNpNkE1OwzAQhS0EElXpkr23LEJtx3acZVV-ilSJDayjieMIV2mS2kkFO67BEbrnBrkJJ8FRATEaad6M3rzFh9AlJdeUCDrfxAbmjNCUEsZP0ITKWEUiIeL0nz5HM-83JJQKzeUE9TfDYW-qpm3N1tQdLr7eP_oadw606R0uDNYQdDccnPWd3fXGj8ddD4Wz7fBZhd102Dc17jtbWQ-dDdrU2A8HqLUZ3SFtD_0rbh0cIy7QWQmVN7OfOUXPd7dPy1W0frx_WC7WkaaU8kgmBdVKaQV5LjhjXFCe5qnJpQAJiQEmFdVcxUwXkuRClFQRnTAtWMmUlvEUXR1zX6DKWme34N6yBmy2Wqyz8RZYJYqnfE-DNzp6tWu8d6b8e6AkGxFnI-LsF3H8DU6Cc5w</recordid><startdate>2019</startdate><enddate>2019</enddate><creator>Guérineau, D.</creator><creator>Fache, L.</creator><creator>Aupetit-Berthelemot, C.</creator><creator>Medrel, P.</creator><general>EDP Sciences</general><scope>AAYXX</scope><scope>CITATION</scope><scope>1XC</scope></search><sort><creationdate>2019</creationdate><title>Développement d’un traceur de caractéristiques de quadripôles et son utilisation en séance de travaux pratiques</title><author>Guérineau, D. ; Fache, L. ; Aupetit-Berthelemot, C. ; Medrel, P.</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-LOGICAL-c1114-67d1c88c8abb542245149b9eb65a6a7ea2681c4832cd60b55f180c72c52f28c63</frbrgroupid><rsrctype>articles</rsrctype><prefilter>articles</prefilter><language>fre</language><creationdate>2019</creationdate><topic>Engineering Sciences</topic><topic>Optics</topic><topic>Photonic</topic><toplevel>peer_reviewed</toplevel><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>Guérineau, D.</creatorcontrib><creatorcontrib>Fache, L.</creatorcontrib><creatorcontrib>Aupetit-Berthelemot, C.</creatorcontrib><creatorcontrib>Medrel, P.</creatorcontrib><collection>CrossRef</collection><collection>Hyper Article en Ligne (HAL)</collection><jtitle>Journal sur l'enseignement des sciences et technologies de l'information et des systèmes</jtitle></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext</fulltext></delivery><addata><au>Guérineau, D.</au><au>Fache, L.</au><au>Aupetit-Berthelemot, C.</au><au>Medrel, P.</au><format>journal</format><genre>article</genre><ristype>JOUR</ristype><atitle>Développement d’un traceur de caractéristiques de quadripôles et son utilisation en séance de travaux pratiques</atitle><jtitle>Journal sur l'enseignement des sciences et technologies de l'information et des systèmes</jtitle><date>2019</date><risdate>2019</risdate><volume>18</volume><spage>1024</spage><pages>1024-</pages><issn>1638-5705</issn><issn>1638-1963</issn><eissn>1638-5705</eissn><abstract>Dans le cadre d’un projet d’études techniques, deux étudiants en 2ème du cycle ingénieur à l’ENSIL-ENSCI à Limoges ont réalisé un traceur automatique de caractéristiques de transistors (à effet de champ et bipolaire). 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