平流式流动电位测试系统的研制

分离膜表面的荷电化显著地影响着膜的分离性能和耐污染能力.因此, 定量化表征膜表面电性能具有重要的理论价值和实际意义.作者在前期透过式膜流动电位测试系统研发工作的基础上成功地研制了平流式流动电位测试系统, 并且首次将恒电流法测膜体电导引入膜表面ζ（Zeta）电位的确定过程中.以自制不同共混比的合金荷电膜为测试对象,利用该测试系统和经典的Helmholtz-Smoluchowski （H-S）方程及其变体得到了不同pH下的膜表面Zeta电位,从而揭示了膜表面电导、膜体电导对膜表面Zeta电位的贡献,并展示了该流动电位测试系统的有效性....

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Published in:Fēnxī huàxué 2006, Vol.34 (10), p.1507-1510
Main Author: 汪锰 吴礼光 莫剑雄 郑幸存 高从堦
Format: Article
Language:Chinese
Subjects:
ζ（Zeta）电位
平流式流动电位
膜体电导
膜表面电导
荷电膜
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Description
Summary:分离膜表面的荷电化显著地影响着膜的分离性能和耐污染能力.因此, 定量化表征膜表面电性能具有重要的理论价值和实际意义.作者在前期透过式膜流动电位测试系统研发工作的基础上成功地研制了平流式流动电位测试系统, 并且首次将恒电流法测膜体电导引入膜表面ζ（Zeta）电位的确定过程中.以自制不同共混比的合金荷电膜为测试对象,利用该测试系统和经典的Helmholtz-Smoluchowski （H-S）方程及其变体得到了不同pH下的膜表面Zeta电位,从而揭示了膜表面电导、膜体电导对膜表面Zeta电位的贡献,并展示了该流动电位测试系统的有效性.
ISSN:0253-3820
DOI:10.3321/j.issn:0253-3820.2006.10.035