Mechanismus der UV-induzierten Bildung von Dewar-Schäden in DNA

Es liegt am Rückgrat: Der Mechanismus der Bildung des Dewar‐Schadens (siehe Schema) wurde mit Femtosekunden‐IR‐Spektroskopie und Ab‐initio‐Rechnungen des angeregten Zustands untersucht. Die 4π‐Elektrocyclisierung verläuft relativ langsam, findet mit einer ungewöhnlich hohen Quantenausbeute statt und...

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Published in:Angewandte Chemie 2012-01, Vol.124 (2), p.421-424
Main Authors: Haiser, Karin, Fingerhut, Benjamin P., Heil, Korbinian, Glas, Andreas, Herzog, Teja T., Pilles, Bert M., Schreier, Wolfgang J., Zinth, Wolfgang, de Vivie-Riedle, Regina, Carell, Thomas
Format: Article
Language:ger
Subjects:
Ab-initio-Rechnungen
Chemistry
Dewar-Valenzisomer
DNA-Schäden
UV-Bestrahlung
Zeitaufgelöste IR-Spektroskopie
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Summary:Es liegt am Rückgrat: Der Mechanismus der Bildung des Dewar‐Schadens (siehe Schema) wurde mit Femtosekunden‐IR‐Spektroskopie und Ab‐initio‐Rechnungen des angeregten Zustands untersucht. Die 4π‐Elektrocyclisierung verläuft relativ langsam, findet mit einer ungewöhnlich hohen Quantenausbeute statt und wird – überraschenderweise – durch das Phosphat‐Rückgrat kontrolliert.
ISSN:0044-8249
1521-3757
DOI:10.1002/ange.201106231